温度冲击试验是主要用于确定产品在温度变化(温度冲击)期间和之后受到的影响，即确定产品能否经受其周围大气温度的急剧变化，而不产生物理破坏或功能与性能下降，其急剧变化的定义为温度变化量大于10℃温度冲击(变化)试验的另一种用途是作为考量安全性要求下对可能出现的潜在的安全性问题和缺陷的筛选手段，是一种用于考核产品安全设计(是指只要试验条件不超过设备的设计极限的极端温度变化速率)、生产工艺，剔除潜在缺陷的方法。
温度冲击试验模拟的环境情况
电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时，其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。
下列情况下，可预见快速的温度变化：
1、当设备从温暖的室内环境转移到寒冷的户外环境，或相反情况时；
2、当设备遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷却时；
3、安装于外部的机载设备中；
4、在某些运输和贮存条件下。
通电后设备中会产生高的温度梯度，由于温度变化，元器件会经受应力，例如，在大功率的电阻器旁边，辐射会引起邻近元器件表面温度升高，而其他部分仍然是冷的。
当冷却系统通电时，人工冷却的元器件会经受快速的温度变化。在设备的制造过程中同样可引起元器件的快速温度变化。温度变化的次数和幅度以及时间间隔都是很重要的。
温度冲击试验要求和目的
1、高低温冲击试验箱试验的目的是用来确定测试产品在周围大气温度急剧变化时候的适应性以及被破坏性的。
2、试验箱试验的条件，高温箱是在：RT～150℃，低温箱是在：RT～-40℃，试验温度保持的时间：1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长者为准,循环次数：针对各个不同行业不同厂家所对应的试验要求不一样，按照标准上的试验方法测试。